A XRF (fluorescência de raios X) mede a composição elementar dos materiais através da análise dos raios X fluorescentes emitidos por uma amostra quando esta é bombardeada com raios X de alta energia. Esta técnica não destrutiva identifica e quantifica os elementos presentes na amostra com base na assinatura espetral única de cada elemento.
Resumo da resposta:
A XRF mede a composição elementar dos materiais através da deteção dos raios X fluorescentes emitidos quando uma amostra é exposta a radiação de raios X. Cada elemento produz um espetro único de raios X fluorescentes, o que permite a identificação e a quantificação dos elementos na amostra.
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Explicação pormenorizada:
- Princípio da XRF:
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Quando uma amostra é exposta a raios X, a energia desses raios X pode excitar os electrões internos dos átomos da amostra. Quando estes electrões excitados voltam aos seus níveis de energia originais, emitem raios X de energias específicas que são características dos elementos presentes na amostra. Esta emissão de raios X é conhecida como fluorescência de raios X.
- Deteção e análise:
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Os raios X fluorescentes emitidos são detectados por um espetrómetro XRF, que consiste numa fonte de raios X e num detetor. O detetor mede a energia e a intensidade dos raios X fluorescentes, que são depois analisados para determinar a composição elementar da amostra. O espetro gerado pelo detetor mostra picos nas energias correspondentes aos elementos presentes na amostra.
- Preparação da amostra:
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A XRF é um método analítico relativamente simples que não requer uma preparação extensiva da amostra. As amostras podem ser sólidas, em pó ou líquidas. Para amostras sólidas, é necessária uma superfície plana e limpa para a medição. As amostras em pó são normalmente esmagadas e homogeneizadas, enquanto as amostras líquidas podem exigir um manuseamento específico para evitar a contaminação ou alteração da amostra durante a análise.
- Aplicações e vantagens:
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A XRF é amplamente utilizada em vários domínios, como a análise de metais, o controlo de qualidade, a reciclagem de sucata metálica e a análise de metais preciosos. Oferece resultados rápidos e exactos com uma preparação mínima da amostra e não é destrutivo, o que significa que a amostra permanece intacta após a análise.
- Gama de elementos:
A técnica XRF pode analisar elementos que vão desde o sódio (Na) ao urânio (U), com níveis de deteção que variam em função das orbitais específicas disponíveis nos átomos para transições de electrões.Revisão e correção: