A XRF, ou fluorescência de raios X, é uma técnica utilizada para medir a composição elementar dos materiais. Para tal, analisa os raios X fluorescentes emitidos por uma amostra quando esta é bombardeada com raios X de alta energia. Este método não destrutivo identifica e quantifica os elementos presentes na amostra com base na assinatura espetral única de cada elemento.
5 pontos-chave explicados
1. Princípio da XRF
Quando uma amostra é exposta a raios X, a energia desses raios X pode excitar os electrões internos dos átomos da amostra. Quando estes electrões excitados voltam aos seus níveis de energia originais, emitem raios X de energias específicas que são caraterísticas dos elementos presentes na amostra. Esta emissão de raios X é conhecida como fluorescência de raios X.
2. Deteção e análise
Os raios X fluorescentes emitidos são detectados por um espetrómetro XRF, que é constituído por uma fonte de raios X e um detetor. O detetor mede a energia e a intensidade dos raios X fluorescentes, que são depois analisados para determinar a composição elementar da amostra. O espetro gerado pelo detetor mostra picos nas energias correspondentes aos elementos presentes na amostra.
3. Preparação das amostras
A XRF é um método analítico relativamente simples que não requer uma preparação extensiva da amostra. As amostras podem ser sólidas, em pó ou líquidas. Para as amostras sólidas, é necessária uma superfície plana e limpa para a medição. As amostras em pó são normalmente trituradas e homogeneizadas, enquanto as amostras líquidas podem exigir um manuseamento específico para evitar a contaminação ou alteração da amostra durante a análise.
4. Aplicações e vantagens
A XRF é amplamente utilizada em vários domínios, como a análise de metais, o controlo de qualidade, a reciclagem de sucata metálica e a análise de metais preciosos. Oferece resultados rápidos e exactos com uma preparação mínima da amostra e não é destrutiva, o que significa que a amostra permanece intacta após a análise.
5. Gama de elementos
A técnica XRF pode analisar elementos que vão desde o sódio (Na) ao urânio (U), com níveis de deteção que variam em função das orbitais específicas disponíveis nos átomos para as transições electrónicas.
Continue a explorar, consulte os nossos especialistas
Descubra a precisão e a versatilidade dos analisadores XRF da KINTEK SOLUTION para análise elementar! Experimente o poder dos ensaios não destrutivos com os nossos espectrómetros XRF avançados que oferecem resultados rápidos e precisos numa vasta gama de aplicações. Confie na nossa tecnologia de ponta para garantir a integridade das suas amostras e desvendar a composição oculta dos materiais. Eleve hoje as suas capacidades analíticas e dê o próximo passo no conhecimento dos materiais com a KINTEK SOLUTION!