O tamanho da amostra para análise por XRF (Fluorescência de Raios X) requer normalmente uma superfície de amostra de 32 mm ou 40 mm de diâmetro. Este tamanho é necessário para garantir resultados exactos e representativos, uma vez que permite que uma área suficiente da amostra seja exposta ao feixe de raios X.
Preparação de amostras para amostras sólidas:
Para amostras sólidas, o processo de preparação envolve a trituração da amostra para obter uma mistura homogénea. O tamanho de grão ótimo para a análise por XRF é inferior a 75 µm. Este tamanho de grão fino garante que a amostra é distribuída uniformemente e que não existem espaços vazios entre os grãos quando o pó é vertido na cuvete para medição. A amostra deve formar uma superfície plana e uniforme, o que é crucial para uma análise exacta.Preparação da amostra para amostras líquidas:
Ao contrário das amostras sólidas, as amostras líquidas não requerem trituração. O método XRF é capaz de medir diretamente amostras líquidas sem necessidade de as converter numa forma sólida. Esta medição direta é possível porque a XRF não é sensível ao estado de agregação, tornando-a uma técnica versátil para vários tipos de amostras.
Escolher o método correto de preparação de amostras:
A escolha do método de preparação da amostra depende do tipo de material que está a ser analisado e dos requisitos específicos da análise. Por exemplo, uma amostra alimentar pode necessitar apenas de 2-4 toneladas de pressão durante a preparação, enquanto um minério pode necessitar de até 40 toneladas. Nos casos em que é necessária uma melhor homogeneização, são utilizadas esferas fundidas. Esta técnica envolve a mistura da amostra moída com um fundente e o seu aquecimento a altas temperaturas, embora possa diluir os oligoelementos e afetar a sua deteção.
Equipamento e dimensão da amostra:
