O tamanho da amostra para a análise por XRF (Fluorescência de Raios X) envolve normalmente a preparação de uma superfície de amostra com 32 mm ou 40 mm de diâmetro. Este tamanho é preferido para assegurar uma área suficiente para medições exactas. Os métodos de preparação variam consoante o tipo de amostra, sendo que as amostras sólidas requerem uma superfície plana e limpa, enquanto as amostras em pó e os líquidos podem necessitar de tratamentos diferentes para garantir a homogeneidade e uma análise precisa.
Amostras sólidas:
Para amostras sólidas, o principal requisito é uma superfície plana e limpa para a medição. Isto é crucial porque a técnica XRF se baseia na interação dos raios X com a superfície da amostra. O tamanho da amostra é normalmente padronizado para 32 mm ou 40 mm para se ajustar ao equipamento de análise, garantindo que os raios X possam interagir uniformemente com o material. A preparação de amostras sólidas envolve a garantia de que a superfície está livre de contaminantes e irregularidades que possam interferir com as medições de raios X.Amostras em pó e líquidas:
As amostras em pó, tais como solos, minérios e autocatalisadores, requerem frequentemente uma trituração até um tamanho de partícula fino (<75 µm) para garantir a homogeneidade. Isto é importante porque a análise por XRF é sensível a variações na composição da amostra. No caso dos líquidos, a preparação pode envolver a filtragem para remover quaisquer sólidos em suspensão que possam afetar a análise. Em alguns casos, as amostras em pó são misturadas com um fundente e aquecidas a altas temperaturas para criar esferas fundidas, que fornecem uma amostra mais homogénea para análise. No entanto, este método pode diluir elementos vestigiais, afectando potencialmente a deteção de constituintes menores.
Equipamento de preparação de amostras:
