Ao realizar uma análise XRF (Fluorescência de Raios X), o tamanho da amostra é um fator crítico.
Normalmente, a superfície da amostra deve ter 32 mm ou 40 mm de diâmetro.
Este tamanho é escolhido para assegurar uma área suficiente para medições exactas.
Os métodos de preparação variam consoante o tipo de amostra.
1. Amostras sólidas
Para amostras sólidas, o requisito principal é uma superfície plana e limpa para a medição.
Isto é crucial porque a técnica XRF se baseia na interação dos raios X com a superfície da amostra.
O tamanho da amostra é normalmente padronizado para 32 mm ou 40 mm para se adaptar ao equipamento de análise.
É essencial assegurar que os raios X possam interagir uniformemente com o material.
A preparação de amostras sólidas implica assegurar que a superfície está isenta de contaminantes e irregularidades.
2. Amostras em pó e líquidos
As amostras em pó, tais como solos, minérios e autocatalisadores, requerem frequentemente uma trituração até um tamanho de partícula fino (<75 µm) para garantir a homogeneidade.
Isto é importante porque a análise por XRF é sensível a variações na composição da amostra.
No caso dos líquidos, a preparação pode envolver a filtragem para remover quaisquer sólidos em suspensão que possam afetar a análise.
Nalguns casos, as amostras em pó são misturadas com um fundente e aquecidas a altas temperaturas para criar esferas fundidas.
Isto permite obter uma amostra mais homogénea para análise.
No entanto, este método pode diluir os oligoelementos, afectando potencialmente a deteção de constituintes menores.
3. Equipamento de preparação da amostra
A escolha do equipamento de preparação da amostra depende dos requisitos específicos da análise.
Por exemplo, poderá ser utilizada uma prensa manual XRF para produtos farmacêuticos que exijam uma pressão elevada (até 20 toneladas) para garantir uma amostra densa e uniforme.
O equipamento utilizado deve ser capaz de preparar a amostra de acordo com as especificações exigidas.
Isto inclui a dimensão adequada da amostra e o estado da superfície.
4. Resumo
Em resumo, a dimensão da amostra para análise por XRF é normalmente normalizada para 32 mm ou 40 mm.
O método de preparação específico é escolhido com base no tipo de amostra e nos requisitos de análise.
A preparação adequada é essencial para garantir resultados exactos e fiáveis.
É crucial equilibrar a necessidade de resultados de qualidade com o esforço e o custo envolvidos na preparação da amostra.
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