A análise XRF é uma técnica não destrutiva utilizada para determinar a composição elementar dos materiais, bombardeando-os com raios X e medindo a radiação fluorescente resultante. O processo envolve vários passos fundamentais:
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Preparação da amostra: Dependendo do tipo de amostra (sólida, em pó ou líquida), os métodos de preparação variam. Para amostras sólidas, o requisito é uma superfície plana e limpa. As amostras em pó são frequentemente esmagadas e homogeneizadas, enquanto os líquidos requerem um manuseamento específico para garantir medições precisas. Um método de preparação comum para amostras sólidas e em pó é a criação de pellets prensados, o que garante uma distribuição uniforme dos elementos e facilita uma análise precisa.
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Exposição a raios X: A amostra é exposta a raios X gerados por uma fonte ou tubo de raios X. Estes raios X interagem com os elementos e facilitam a análise exacta. Estes raios X interagem com os átomos da amostra, fazendo com que estes emitam raios X secundários (radiação fluorescente) à medida que os electrões se deslocam para diferentes orbitais.
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Deteção e análise: A radiação fluorescente emitida é detectada por um espetrómetro XRF. Cada elemento produz um espetro único de radiação fluorescente, que permite a identificação e a quantificação dos elementos presentes na amostra. O detetor processa esta informação para gerar um espetro que mostra a presença e a concentração de vários elementos com base na intensidade dos diferentes picos.
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Interpretação dos resultados: O espetro gerado pelo espetrómetro XRF é analisado para determinar a composição elementar da amostra. Esta análise é crucial para o controlo de qualidade em indústrias como as do cimento, minas e minerais industriais, onde as matérias-primas e os produtos acabados têm de cumprir normas específicas.
O processo de análise por XRF é relativamente simples e não requer normalmente uma preparação complexa da amostra, tornando-o um método eficiente e eficaz para a análise elementar numa vasta gama de indústrias e aplicações.
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