A margem de erro das medições por XRF (Fluorescência de Raios X) depende essencialmente de vários factores, incluindo a espessura da amostra, o tamanho do colimador, o tipo de detetor utilizado e a qualidade da preparação da amostra. A espessura mínima de deteção para a XRF é de cerca de 1nm, abaixo da qual os raios X característicos se perdem no ruído. O intervalo máximo é de aproximadamente 50um, para além do qual a espessura do revestimento satura e não é possível detetar alterações adicionais.
Gama de espessuras:
A tecnologia XRF pode detetar espessuras tão baixas como 1nm até 50um. Abaixo de 1nm, os raios X característicos não podem ser distinguidos do sinal de ruído, levando a medições indetectáveis. Acima de 50um, a espessura do revestimento torna-se demasiado densa para que os raios X das camadas interiores penetrem e alcancem o detetor, resultando num efeito de saturação em que não podem ser medidas mais alterações na espessura.Tamanho do colimador:
O colimador, um componente crucial do analisador XRF, determina o tamanho do ponto do feixe de raios X. É essencial que o tamanho do colimador corresponda ao tamanho da amostra que está a ser medida. Se o colimador for demasiado grande, pode incluir a composição da área circundante, afectando a precisão da medição. Estão disponíveis diferentes colimadores para otimizar a precisão com base no tamanho da amostra, mas a seleção deve também considerar a divergência do feixe que ocorre quando os raios X passam através do colimador.
Seleção do detetor:
Os instrumentos XRF utilizam contadores proporcionais ou detectores baseados em semicondutores, como os detectores de desvio de silício (SDD). Os contadores proporcionais são preenchidos com gás inerte que se ioniza quando exposto aos raios X, produzindo um sinal proporcional à energia absorvida. Os SDD, por outro lado, utilizam materiais semicondutores que geram uma carga relacionada com a composição elementar da amostra quando expostos a raios X. A escolha do detetor depende das necessidades específicas da análise, sendo os SDD frequentemente preferidos devido à sua maior resolução e velocidade.Preparação da amostra:
A preparação de amostras de alta qualidade é fundamental para minimizar os erros na análise por XRF. Os métodos mais comuns, como as pastilhas prensadas, são utilizados pela sua eficiência e rentabilidade. Factores como a focagem correcta da amostra, o alinhamento da amostra com o tubo de raios X e o detetor e a utilização de um substrato semelhante à peça que está a ser medida são cruciais para obter resultados precisos. O desalinhamento ou a seleção incorrecta do substrato pode levar a erros significativos na análise.
