O limite mínimo de deteção da XRF depende de vários factores, incluindo a concentração do elemento na amostra, o tipo de amostra a analisar e o espetrómetro XRF utilizado.
Para a maioria dos elementos, a XRF pode detetar concentrações tão baixas como 2-20 ng/cm2. Isto significa que pode detetar quantidades muito pequenas de elementos numa amostra.
O limite de deteção pode variar consoante o tipo de amostra. Por exemplo, as amostras de alimentos podem ter um limite de deteção inferior de 2-4 toneladas, enquanto os produtos farmacêuticos podem exigir um limite de deteção superior de 20 toneladas. Os minérios podem ter um limite de deteção ainda mais elevado, até 40 toneladas.
O limite de deteção pode também depender da técnica de preparação da amostra utilizada. Por exemplo, a técnica de XRF de esferas fundidas, que envolve a trituração da amostra até uma dimensão de partícula fina e a sua compressão numa pastilha lisa e plana, pode melhorar a deteção de emissões. No entanto, esta técnica pode não ser capaz de detetar oligoelementos, uma vez que a amostra precisa de ser diluída.
A profundidade a que a XRF pode detetar elementos numa amostra depende também do peso atómico do elemento. Os elementos mais leves são mais difíceis de detetar do que os mais pesados, e a profundidade de deteção varia geralmente entre 1-1000 µm abaixo da superfície da amostra.
O tipo de espetrómetro XRF utilizado também pode afetar o limite de deteção. Os espectrómetros XRF dispersivos em energia (ED-XRF) são simples e fáceis de utilizar, mas podem ter uma resolução mais baixa, enquanto os espectrómetros XRF dispersivos em comprimento de onda (WD-XRF) são mais complexos e caros, mas oferecem uma resolução mais elevada.
Em resumo, o limite mínimo de deteção por XRF depende da concentração do elemento, do tipo de amostra, da técnica de preparação da amostra, do peso atómico do elemento e do tipo de espetrómetro XRF utilizado.
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