A espetroscopia XRF é utilizada para a análise elementar, uma vez que pode determinar a composição elementar dos materiais de uma forma não destrutiva. Esta técnica funciona bombardeando a amostra com raios X e medindo a radiação fluorescente resultante, que produz um espetro único para cada elemento. Isto permite a identificação dos elementos presentes na amostra.
A espetroscopia XRF oferece várias vantagens em relação a técnicas alternativas, como a espetrometria de emissão ótica (OES) e a espetrometria de rutura induzida por laser (LIBS). Estas técnicas alternativas têm capacidades analíticas limitadas e podem deixar marcas visíveis nas peças de trabalho, enquanto a espetroscopia XRF mantém a integridade da amostra durante todo o processo.
Para obter resultados óptimos, a espetroscopia XRF requer a utilização de vários equipamentos de laboratório, incluindo material de laboratório em platina, fornos de fusão de alto desempenho e moldes específicos para a química. Estas ferramentas facilitam a análise quantitativa e qualitativa exacta das amostras.
Para além da espetroscopia XRF, outras técnicas de análise elementar incluem a corrida sólida em solução, a técnica de filme de caixa e a técnica de pellets prensados. Estes métodos envolvem a dissolução de amostras sólidas em solventes não aquosos, a deposição de amostras em células de KBr ou NaCl e a compressão de amostras sólidas finamente moídas em pastilhas transparentes, respetivamente. No entanto, a espetroscopia XRF continua a ser uma das ferramentas mais eficazes para a análise elementar, uma vez que pode identificar e quantificar elementos presentes em materiais a granel de forma não destrutiva e fornecer resultados rápidos e exactos.
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