Equipe técnica · Kintek Solution

A dimensão da amostra necessária para a análise por XRF (Fluorescência de Raios X) requer normalmente uma superfície de amostra de 32 mm ou 40 mm de diâmetro para pastilhas redondas. Este tamanho é preferível para garantir uma cobertura adequada e precisão na análise. A escolha entre 32 mm e 40 mm depende dos requisitos específicos do espetrómetro XRF que está a ser utilizado e da natureza da amostra a ser analisada.

Explicação pormenorizada:

1. Tamanho e preparação da amostra:

   • Preparação de pastilhas: Para a análise por XRF, as amostras são frequentemente preparadas sob a forma de pellets. Estas pastilhas são feitas comprimindo amostras em pó em forma de disco utilizando um molde. Os tamanhos padrão para estas pastilhas são 32 mm ou 40 mm de diâmetro. Estes tamanhos são escolhidos para corresponder aos requisitos dos espectrómetros XRF, que são concebidos para analisar amostras com estas dimensões.
   • Tipos de matrizes: Estão disponíveis diferentes tipos de matrizes para a preparação destas pastilhas. Um tipo tem pastilhas de prensagem interna adequadas a todos os tipos de amostras, enquanto outro tipo foi concebido para utilização com copos de amostras de alumínio e apresenta uma face de êmbolo altamente polida. A escolha da matriz depende das características específicas da amostra e do nível desejado de preparação da amostra.

2. Requisitos da amostra com base no material:

   • Amostras de alimentos: Normalmente, requerem uma força de compressão menor, cerca de 2-4 toneladas, devido à sua composição mais macia.
   • Produtos farmacêuticos: Podem exigir uma força de compressão mais elevada, até 20 toneladas, o que é ideal para prensas XRF manuais.
   • Minérios minerais: Podem exigir a força de compressão mais elevada, até 40 toneladas, devido à sua dureza e densidade.

3. Técnicas de preparação alternativas:

   • Contas fundidas: Esta técnica é utilizada quando é necessária uma melhor homogeneização da amostra. A amostra é triturada até atingir um tamanho de partícula fino (<75 µm) e misturada com um fundente (como tetraborato de lítio ou uma mistura de tetraborato/metaborato) em proporções que variam de 5:1 a 10:1. A mistura é então aquecida num cadinho de platina a temperaturas elevadas (até 1 600 °C). No entanto, este método tem a limitação de poder não detetar eficazmente elementos vestigiais devido à diluição da amostra.

4. Considerações sobre a preparação da amostra:

   • A escolha do método de preparação da amostra depende da qualidade dos resultados pretendidos, do esforço a despender (mão de obra, complexidade) e do custo (equipamento, mão de obra, tempo de análise). Diferentes materiais podem exigir diferentes métodos de preparação com base nos seus requisitos de análise.

Em resumo, o tamanho da amostra necessária para a análise XRF é normalmente de 32 mm ou 40 mm de diâmetro para pastilhas redondas, com técnicas de preparação específicas e forças de compressão que variam consoante o tipo de material a analisar. A preparação adequada da amostra é crucial para obter resultados precisos e fiáveis na análise XRF.

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