EDX (Energy Dispersive X-ray) e XRF (X-ray Fluorescence) são ambas técnicas analíticas utilizadas para a análise elementar.
A EDX é uma técnica que permite a análise de amostras microscópicas e mesmo nanoscópicas. Envolve a utilização de um microscópio eletrónico para gerar raios X, que são depois utilizados para analisar a composição da amostra. Os ensaios EDX requerem normalmente a destruição de uma amostra, mas produzem resultados significativamente mais exactos do que a análise XRF.
A XRF, por outro lado, é uma técnica não destrutiva que é normalmente utilizada para o controlo de qualidade de matérias-primas e produtos acabados em várias indústrias. Envolve a utilização de uma fonte de raios X e de um detetor para medir a quantidade de vários elementos presentes numa amostra. A XRF pode analisar materiais a granel sem necessidade de destruição da amostra.
Em termos de simplicidade e facilidade de utilização, os espectrómetros EDX são geralmente considerados mais simples e fáceis de utilizar do que os espectrómetros XRF. Os espectrómetros EDX podem recolher simultaneamente sinais de vários elementos, enquanto os espectrómetros XRF recolhem um sinal de cada vez em diferentes ângulos com a ajuda de um goniómetro. Os espectrómetros WD-XRF, que recolhem sinais em diferentes ângulos, são mais complexos e caros, mas oferecem uma resolução mais elevada em comparação com os espectrómetros ED-XRF.
A XRF é normalmente utilizada em indústrias como a do cimento, minérios metálicos, minérios minerais, petróleo e gás e aplicações ambientais e geológicas. No entanto, qualquer laboratório com as competências adequadas pode utilizar a análise por XRF.
A preparação de amostras é um aspeto importante da análise EDX e XRF. Para a análise por XRF, as amostras podem ser analisadas como líquidos ou sólidos. Um método comum de preparação de amostras para análise por XRF é a produção de pastilhas prensadas, que é uma abordagem popular devido aos seus resultados de alta qualidade, processo rápido e baixo custo.
Em conclusão, tanto as técnicas EDX como XRF têm as suas próprias vantagens e aplicações. A EDX oferece a capacidade de analisar amostras microscópicas e nanoscópicas com elevada precisão, mas requer a destruição da amostra. A XRF, por outro lado, é uma técnica não destrutiva que é amplamente utilizada para a análise elementar em várias indústrias. A escolha entre EDX e XRF depende dos requisitos específicos da análise e da natureza da amostra que está a ser analisada.
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