Quando se trata de analisar a composição de materiais, duas técnicas comuns são a Espectroscopia por Dispersão de Energia (EDS) e a Fluorescência de Raios X (XRF).
5 pontos-chave para compreender
1. Aplicação e escala de análise
A EDS é utilizada para a análise da composição de micro-áreas.
É frequentemente associado a microscópios electrónicos para analisar áreas muito pequenas, normalmente na gama de 1 μm.
2. Método de deteção
O EDS funciona através do bombardeamento de uma amostra com feixes de electrões no vácuo.
Isto estimula a emissão de raios X caraterísticos que podem ser utilizados para identificar e quantificar elementos de B a U na tabela periódica.
3. Limites de deteção e precisão
O EDS é particularmente eficaz para análises qualitativas e semi-quantitativas.
Tem um limite de deteção de 0,1%-0,5% e um erro quantitativo de cerca de 2% para elementos com números atómicos médios.
4. Ensaios não destrutivos
A XRF é um método de ensaio não destrutivo utilizado para a análise de materiais a granel.
Utiliza radiação para excitar átomos numa amostra, fazendo com que estes emitam raios X secundários que são caraterísticos dos elementos presentes.5. Versatilidade e aplicações industriaisA XRF é amplamente utilizada em vários domínios, como a ciência dos materiais, a geologia e a análise ambiental.
Fornece uma composição química quase completa sem danificar a amostra.
A XRF pode ainda ser classificada em XRF dispersiva em energia (ED-XRF) e XRF dispersiva em comprimento de onda (WD-XRF), sendo que a última oferece uma resolução mais elevada, mas é mais complexa e dispendiosa.
