A análise por XRF (Fluorescência de Raios X) penetra normalmente na amostra a profundidades entre 1-1000 µm.
A profundidade de penetração é influenciada pelo peso atómico dos elementos na amostra.
Os elementos mais leves são mais difíceis de detetar a níveis mais profundos do que os elementos mais pesados.
Isto deve-se ao facto de os raios X caraterísticos emitidos durante a análise serem geralmente devidos a átomos superficiais a estas profundidades.
A capacidade de detetar elementos a diferentes profundidades é crucial para uma análise precisa.
Afecta o sinal recebido pelo espetrómetro XRF.
Os elementos de energia mais elevada, normalmente os que têm números atómicos mais elevados, têm profundidades de fuga mais elevadas numa amostra.
Isto significa que podem ser detectados a partir de camadas mais profundas em comparação com os elementos de energia mais baixa.
Esta sensibilidade à profundidade é um fator chave na preparação e interpretação dos resultados da análise XRF.
4 Principais conhecimentos
1. Intervalo de Profundidade de Penetração
A análise por XRF penetra normalmente na amostra a profundidades entre 1-1000 µm.
2. Influência do peso atómico
A profundidade de penetração é influenciada pelo peso atómico dos elementos na amostra.
3. Deteção de elementos
Os elementos mais leves são mais difíceis de detetar a níveis mais profundos do que os elementos mais pesados.
4. Sensibilidade à profundidade
Os elementos de energia mais elevada têm profundidades de fuga maiores, o que significa que podem ser detectados a partir de camadas mais profundas.
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