A amostra mínima necessária para a análise por XRD (difração de raios X) não é explicitamente mencionada no texto fornecido, que aborda principalmente a análise por XRF (fluorescência de raios X). No entanto, para a análise XRD, os requisitos de preparação e quantidade da amostra podem ser inferidos a partir de práticas gerais na análise de materiais. Normalmente, para XRD, uma pequena quantidade de amostra, frequentemente cerca de 10-20 mg, é suficiente se a amostra for finamente moída e homogeneamente distribuída num suporte de amostra. O requisito fundamental para a DRX é que a amostra deve estar numa forma que permita que os raios X penetrem e interajam com a estrutura cristalina do material, razão pela qual é frequentemente preparada uma camada fina e plana da amostra.
No caso da DRX, a preparação da amostra envolve a trituração do material até obter um pó fino, para garantir que a estrutura cristalina está bem representada e que os raios X podem interagir com um grande número de cristalitos. Este processo de moagem é crucial para obter uma amostra homogénea, o que é essencial para padrões de DRX precisos e reproduzíveis. O pó é então espalhado numa lâmina de vidro ou num suporte de amostras, assegurando que é distribuído uniformemente e compactado para minimizar as variações preferenciais de orientação e espessura.
Em resumo, embora a quantidade específica de 15 g mencionada no texto seja para análise por XRF, para XRD é suficiente uma quantidade muito menor, normalmente cerca de 10-20 mg de amostra finamente moída e homogeneamente preparada. O método de preparação assegura que a amostra se encontra numa forma que permite uma interação eficaz com o feixe de raios X, o que é fundamental para a obtenção de padrões de difração claros e interpretáveis.
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