Conhecimento Qual é o conceito básico de XRF? 5 pontos-chave explicados
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Equipe técnica · Kintek Solution

Atualizada há 2 meses

Qual é o conceito básico de XRF? 5 pontos-chave explicados

A fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica não destrutiva utilizada para determinar a composição elementar dos materiais.

Funciona com base no princípio de que, quando os materiais são expostos a raios X de alta energia, os átomos no interior do material ficam excitados e emitem raios X secundários (ou fluorescentes) de uma energia específica caraterística dos elementos presentes.

Estes raios X emitidos são então analisados para identificar os elementos e as suas concentrações no material.

5 Pontos-chave explicados

Qual é o conceito básico de XRF? 5 pontos-chave explicados

1. Excitação de átomos

Quando uma amostra é exposta a raios X de alta energia, a energia desses raios X é absorvida pelos átomos da amostra.

Esta energia é suficiente para ejetar os electrões da camada interna dos átomos.

Este processo é conhecido como excitação.

2. Emissão de raios X fluorescentes

Depois de um eletrão ter sido ejectado, o átomo encontra-se num estado instável.

Para voltar a um estado estável, um eletrão de um nível de energia superior preenche a vaga deixada pelo eletrão ejectado.

A diferença de energia entre os dois níveis é libertada sob a forma de um raio X fluorescente.

Cada elemento tem um conjunto único de níveis de energia, pelo que os raios X emitidos são caraterísticos dos elementos específicos presentes na amostra.

3. Deteção e análise

Os raios X fluorescentes emitidos são detectados por um espetrómetro XRF.

A energia destes raios X é medida e, uma vez que cada elemento emite raios X com energias específicas, os elementos presentes na amostra podem ser identificados.

A intensidade dos raios X emitidos é também medida, o que pode ser utilizado para determinar a concentração de cada elemento na amostra.

4. Análise não destrutiva

Uma das vantagens significativas da XRF é o facto de ser uma técnica não destrutiva.

Isto significa que a amostra pode ser analisada sem ser alterada ou destruída, o que é particularmente útil para materiais valiosos ou raros.

5. Preparação da amostra

Embora a XRF seja relativamente indulgente no que diz respeito à preparação de amostras, esta continua a ser crucial para a obtenção de resultados exactos.

As amostras sólidas requerem uma superfície plana e limpa para a medição, enquanto as amostras em pó são frequentemente homogeneizadas e prensadas em pellets.

As amostras líquidas também podem ser analisadas diretamente.

A preparação adequada da amostra assegura que os raios X interagem uniformemente com a amostra, conduzindo a resultados fiáveis e reprodutíveis.

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