A alternativa à XRF (fluorescência de raios X) para a análise elementar inclui técnicas como a espetrometria de emissão ótica (OES) e a espetrometria de rutura induzida por laser (LIBS). Estes métodos podem analisar diretamente peças de trabalho sem uma preparação extensiva da amostra, mas têm limitações em comparação com a XRF. A OES e a LIBS podem deixar marcas visíveis nas amostras, o que pode ser uma desvantagem quando a preservação da integridade da peça de trabalho é crucial.
Espectrometria de emissão ótica (OES):
A OES é uma técnica que utiliza a luz emitida por átomos excitados para determinar a composição elementar de um material. É particularmente útil para detetar elementos com números atómicos baixos e pode fornecer uma análise quantitativa precisa. No entanto, a OES requer uma faísca para excitar os átomos, o que pode causar danos físicos à amostra, tornando-a menos adequada para ensaios não destrutivos.Espectrometria de decomposição induzida por laser (LIBS):
A LIBS utiliza um impulso de laser de alta potência para criar um microplasma na superfície da amostra, que emite luz. O espetro desta luz é então analisado para determinar a composição elementar. A LIBS é vantajosa pela sua capacidade de analisar sólidos, líquidos e gases sem uma preparação significativa da amostra. No entanto, tal como a OES, pode deixar marcas na amostra devido ao impacto do laser de alta energia.
