Quando se trata de análise elementar, a fluorescência de raios X (XRF) é uma escolha popular.
No entanto, existem técnicas alternativas que também podem fornecer informações valiosas.
Estas alternativas incluem a espetrometria de emissão ótica (OES) e a espetrometria de rutura induzida por laser (LIBS).
Tanto a OES como a LIBS podem analisar peças de trabalho sem uma preparação extensiva da amostra.
Mas têm o seu próprio conjunto de limitações em comparação com a XRF.
Qual é a alternativa à XRF? Explicação de 3 técnicas principais
1. Espectrometria de Emissão Ótica (OES)
A OES utiliza a luz emitida por átomos excitados para determinar a composição elementar de um material.
É particularmente útil para detetar elementos com números atómicos baixos.
A OES pode fornecer uma análise quantitativa exacta.
No entanto, a OES requer uma faísca para excitar os átomos.
Esta faísca pode causar danos físicos na amostra.
Por conseguinte, a OES é menos adequada para ensaios não destrutivos.
2. Espectrometria de decomposição induzida por laser (LIBS)
A LIBS utiliza um impulso de laser de alta potência para criar um microplasma na superfície da amostra.
O espetro da luz emitida por este microplasma é então analisado para determinar a composição elementar.
A LIBS é vantajosa pela sua capacidade de analisar sólidos, líquidos e gases sem uma preparação significativa da amostra.
No entanto, tal como a OES, a LIBS pode deixar marcas na amostra devido ao impacto do laser de alta energia.
3. Fluorescência de raios X (XRF)
A XRF continua a ser o método preferido para muitas aplicações.
Isto deve-se à sua natureza não destrutiva e às suas amplas capacidades analíticas.
A XRF pode analisar amostras sem alterar as suas propriedades físicas.
Isto torna-o ideal para indústrias onde a preservação da integridade dos materiais é fundamental.
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