A gama de análise XRF vai desde uma espessura mínima de deteção de aproximadamente 1 nm até um máximo de cerca de 50 µm. Abaixo de 1 nm, os raios X característicos são obscurecidos pelo ruído, e acima de 50 µm, a espessura satura, impedindo que raios X adicionais cheguem ao detetor.
Explicação pormenorizada:
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Espessura mínima de deteção (1 nm): Em espessuras inferiores a 1 nm, os raios X característicos emitidos pelo material em análise não são detectáveis porque estão submersos no sinal de ruído. Esta limitação é devida à sensibilidade fundamental da tecnologia XRF e ao ruído de fundo inerente ao processo de deteção.
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Espessura máxima de deteção (50 µm): Quando a espessura do material excede os 50 µm, os raios X emitidos pelas camadas interiores do material não conseguem penetrar nas camadas exteriores para atingir o detetor. Isto resulta num efeito de saturação em que o aumento da espessura para além deste ponto não produz raios X adicionais detectáveis. Isto deve-se ao facto de os raios X serem absorvidos ou dispersos pelo material sobrejacente, impedindo-os de atingir o detetor e, assim, não podem ser medidas mais alterações na espessura.
Estes limites definem a gama prática da análise XRF em termos de espessura do material, assegurando que a tecnologia é eficaz dentro destes limites para medições precisas e fiáveis.
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