A XRF, ou Fluorescência de Raios X, é uma técnica de análise quantitativa utilizada para a análise de elementos. Funciona com base no princípio de que quando os átomos são expostos a radiação de alta energia, como os raios X, os seus electrões internos são ejectados. Isto cria uma vaga na camada interna do átomo, que é então preenchida por um eletrão de uma camada de energia mais elevada. A diferença de energia entre estas duas camadas é emitida como um raio-X fluorescente, que tem um comprimento de onda caraterístico específico para cada elemento. Ao medir estes comprimentos de onda, a XRF pode identificar e quantificar os elementos presentes numa amostra.
Explicação pormenorizada:
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Excitação de átomos:
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Na análise por XRF, uma amostra é exposta a raios X. Estes raios X têm energia suficiente para deslocar os electrões das camadas internas dos átomos da amostra. Esta deslocação deixa uma vaga na camada interna.Emissão de raios X fluorescentes:
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Para restaurar a estabilidade, um eletrão de uma camada de energia mais elevada desce para preencher a lacuna na camada interna. A diferença de energia entre as duas camadas é libertada como um raio X fluorescente. Esta emissão é específica para o elemento e para os níveis de energia envolvidos, permitindo a identificação do elemento.
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Deteção e análise:
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Os raios X fluorescentes emitidos são detectados por um espetrómetro, que mede a sua energia. Cada elemento produz um espetro único de raios X, permitindo a identificação dos elementos presentes na amostra. A intensidade dos raios X emitidos pode ser utilizada para quantificar a quantidade de cada elemento na amostra.Preparação da amostra:
A exatidão da análise por XRF depende significativamente da preparação da amostra. Os métodos comuns incluem a preparação de amostras sólidas, em pó ou líquidas, cada uma exigindo diferentes técnicas de preparação para garantir uma exposição uniforme aos raios X e resultados exactos. A escolha do método de preparação depende do tipo de amostra e dos requisitos específicos da análise.
